论文题目：压接型IGBT器件失效短路演化机制及耐受能力研究
答 辩 人：刘人宽
导 师：李辉
答辩委员会主席：杜 雄 教授 博导 重庆大学
答辩委员会委员：陈显平 教授 博导 重庆大学
罗皓泽 教授 博导 浙江大学
蒋华平 特聘研究员 博导 重庆大学
查鲲鹏 教授级高工 中电普瑞电力工程有限公司
答 辩 秘 书：姚然 助理研究员
答 辩 地 点：6329会议室
答 辩 时 间：2023年5月24日10:30
欢迎广大师生光临指导
